测头结构 ? 所有的测头都安装在套管里，以确保测头安全稳定地定位，并保持测头适当的接触压力。套管前端的V型槽可保证在凸面上准确测量。测量时须握住测头上套管，保持测头轴线与被测面垂直。测头的顶端，由的硬质材料制成。
三、参数 ? ?测量范围: ? ? ? F型：0～3000μm ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?N型：0～2000μm ? ?误差: ? ? ? ? ? ±1μm或±2～4%曲率半径: ? 5mm(凸)；25mm(凹)? ? 测量面积: ? φ20mm基体厚度: ? 0.5mm(F)；50μm(N) ? ?显示: ? ? ? ? ? 4位数显，背光可选 ? ?测量单位: ? ? ? um-mils可选 ? ?校准方式: ? ? ? 标准、一点、两点 ? ?电源: ? ? ? ? ? 2节5号电池 常规涂层测厚仪的原理 对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关和中称为覆层（coating）。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，涂层测厚仪销售，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。 覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，电解涂层测厚仪，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中种是有损检测，测量手段繁琐，122涂层测厚仪，速度慢，涂层测厚仪，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。 采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。 电解涂层测厚仪、涂层测厚仪、重庆哈科科技公司(查看)由重庆哈科科技有限公司提供。重庆哈科科技有限公司（）是一家从事“分选机,光谱仪,影像测量仪,激光测径仪,圆柱度仪,磁粉探伤”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“斯帕克,哈科”拥有良好口碑。我们坚持“服务至上，用户至上”的原则，使重庆哈科科技公司在光学仪器中赢得了众的客户的信任，树立了良好的企业形象。 特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！ 产品：重庆哈科科技公司供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
