粉末量杯的基本尺寸：1、有 10mm，石墨电极电阻率推荐， 6mm内经两种2、电压端子间距 固定 10mm3、电流下端子距离下部电压端子 10mm， 电流上端子是活动施压的部分，距离上部电压端子距离 10mm 6mm粉杯： 607.59毫升（-141.3毫升，即建议至少留5mm的空间容纳电流电极）10mm 粉杯：1687.75毫升（-392.5毫升，即建议至少留5mm的空间容纳电流电极）4、粉杯总高度： 86mm< H<107.55、粉末施压 10mm粉杯： P <3.5MPa 6mm 粉杯： P<10.4MPa注：以上为现有设计粉杯的基本参数，可以按用户要求定制整套测试夹具GCQS-37塑料薄膜工频介电常数及介质损耗测试仪GCQS-37绝缘纸工频介电常数及介质损耗测试仪GCQS-37绝缘材料工频介电常数及介质损耗测试仪GCQS-37电容器薄膜工频介电常数及介质损耗测试仪DDJ-100KV绝缘材料电压击穿试验仪NDH-A 微机控制绝缘材料耐电弧试验仪/高电压小电流测试仪NDH-B 触摸屏控制绝缘材料耐电弧试验仪/高电压小电流测试仪GEST-121 绝缘材料体积表面电阻率测定仪NLD-A 高压漏电起痕试验仪NLD-B 耐痕化指数测定仪（漏电起痕试验机）GCSTD-A 高频介电常数及介质损耗测试仪GEST-122炭素材料电阻率测定仪GEST-123电线、电缆金属材料电阻率测试装置/导体电阻率测试仪GEST-124炭阳极用煅后石油焦粉末电阻率测试仪GEST-125半导电橡塑材料体积电阻率试验仪北京冠测试验仪器有限公司专注于材料电性能检测仪器试验方法的及应用，是集研发﹨生产﹨销售于一体的高科技企业. 符合半导体材料电阻率的国际及测试方法。2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。3、电阻率测量范围复盖常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能） 方块电阻测量范围复盖常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能）4、配置恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%； 整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。 测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。全新设计的宽量程、多路电阻测试仪，采用结构紧凑的插卡式设计，插卡可分为采集卡、报警卡、可任意配置。每张测试卡可对8路电阻进行扫描测试。采用ARM微处理器控制。真彩4.3寸液晶大可同时显示48路电阻值，并且每个通道可以单独设置比较器，UC2517X可以测试10μΩ～300KΩ的电阻，大显示30，000数。同时还具有选配的温度补偿功能可以适应不同要求的测试。应用于自动化设备，可使用RS232C及HANDLER接口输出GD/NG信号，以提高生产自动化测试能力。 探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。 北京冠测(多图)|石墨电极的电阻率商家由北京冠测精电仪器设备有限公司提供。北京冠测精电仪器设备有限公司（）坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支的员工队伍，力求提供好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。冠测精电——您可信赖的朋友，公司地址：上海徐汇区桂林路1号（冠测仪器上海事业部），联系人：管玉杰。 产品：北京冠测供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
