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[供应]北京冠测(查看)|石墨电极电阻率测试标准

更新时间:2018-10-22 17:49:39
:表面电阻率测量可就混凝土结构的状态提供极其有用的信息。经证实,它可直接导致腐蚀并与腐蚀速率有着直接的关系,此外,近的研究表明,电阻率与氯化物扩散速率甚至与早期抗压强度有直接关联。这使其成为适用于混凝土的用途广的无损检测方法之一。完全集成式表面电阻率测量仪适用于表面电阻率测量仪的分辨率符合AASHTO标准(38 mm,1.5探针距离)。电流指示和接触不良指示保持、保存和删除功能,板载存储器USB连接和PC软件设计用于漂浮(防水)允许使用配件更换标准针头混凝土电阻率测试仪应用示例估算腐蚀可能性指示腐蚀速率与氯离子渗透性相关现场评估硫化效率确定阴极保护系统的分区要求识别混凝土结构中的潮湿和干燥区域指明混凝土结构中的水/灰比变化识别结构中容易遭受氯离子渗透的区域与早期抗压强度相关与岩石的透水性相关。 影响绝缘材料电阻率的主要因素有以下几种:  (1)温度。温度升高,电阻率下降,绝缘电阻减小。  (2)湿度。湿度增大,使电阻率下降,绝缘电阻减小。  (3)杂质。绝缘材料的原材料大都存在杂质,绝缘电阻值对绝缘材料中所含杂质的反映很灵敏,杂质增加将使电阻率下降。  (4)电场强度。在较高电场强度作用下,固体、液体电介质中离子迁移能力相应增强,使电阻率下降,石墨电极电阻率测试仪在线咨询,绝缘电阻减小,当场强足够大时将形成绝缘材料的击穿。气体的导电机理有所不同,电场强度在一定的范围内,气体因游离产生的电流很小,因而具有良好的绝缘性。当场强足够大时,气体因游离而击穿,若去掉外加电压,气体又可以恢复绝缘性能。符合半导体材料电阻率的国际及测试方法。2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体,也可测量薄硅片电阻率及方阻。3、电阻率测量范围复盖常用的区段:0.01—199.9Ω·cm。(可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能)  方块电阻测量范围复盖常用的区段:0.1—1999Ω/□。(可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能)4、配置恒流源,测量电流稳定,分两档:1mA、10mA,每档均可在大范围内调节(1mA:0.1—1mA;10mA:1mA—10mA)。5、测量精度高:电器测量精度优于0.3%;  整机测量误差:测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。  测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。6、重量轻,约2.5kg;体积小:240×210×100(mm)。7、可配用多种探针间距的四探针头:1.00mm、1.59mm。  北京冠测(多图),石墨电极电阻率测试标准由北京冠测精电仪器设备有限公司提供。北京冠测精电仪器设备有限公司()为客户提供“介电强度测试仪,电阻率测试仪,介电常数测试仪,海绵检测仪器”等业务,公司拥有“冠测仪器”等。专注于试验机等行业,在上海 徐汇区 有较高度。欢迎来电垂询,联系人:管玉杰。 产品:北京冠测供货总量:不限产品价格:议定包装规格:不限物流说明:货运及物流交货说明:按订单
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