1.1 设备数量 1套
* 1.2 设备功能 测试功率半导体器件静态参数
* 1.3 设备组成 设备包含硬件模块和软件模块两大部分
* 1.4 硬件模块 设备硬件部分应包括测试主机、测试线缆,测试夹具、控制电脑等
* 1.5 软件模块 设备软件部分应包括:
1.操作系统、备份、保存、远程控制编辑、上传、故障自检报警等基本功能;卖方所提供的元件,必须是经过检验合格的器件,否则,买方有权拒付货款。
检修用IGBT测试仪厂家
1.1 设备数量 1套
* 1.2 设备功能 测试功率半导体器件静态参数
* 1.3 设备组成 设备包含硬件模块和软件模块两大部分
* 1.4 硬件模块 设备硬件部分应包括测试主机、测试线缆,测试夹具、控制电脑等
* 1.5 软件模块 设备软件部分应包括:
1.操作系统、备份、保存、远程控制编辑、上传、故障自检报警等基本功能;卖方所提供的元件,必须是经过检验合格的器件,否则,买方有权拒付货款。
2. 图形化操作界面;中/英文操作系统
3.输出EXCEL、wor测试报告
*4.切换大小功率测试模块,达到相应测试精度
*5.可生成器件的I-V特性曲线,曲线上测试点数据可以导出到EXCEL表格;
*6.同一测试条件的器件的测试曲线可以在软件内进行对比,新测曲线可以与原测曲线进行对比;
2、设备尺寸
2.1 设备总体长度 ≤ 700 mm
2.2 设备总体宽度 ≤600mm
2.3 设备总体高度 ≤500mm
大功率半导体器件为何有老化的问题?
任何产品都有设计使用寿命,同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护,延长产品使用寿命和设备良好运行具有极为重要。6)短路保护放电回路
紧急情况下放电,保证紧急情况时使设备处于安全电位。功率元件由于经常有大电流往复的冲击,对半导体结构均具有一定的耗损性及破坏性,若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘,更会加速元件的老化程度,故元件老化,就如人的老化一样是不可避免的问题。
3.1开通时间Ton测试原理框图
图3-1开通时间测试原理框图
其中:Vcc 试验电压源
±VGG 栅极电压
C1 箝位电容
Q1 陪测器件(实际起作用的是器件中的续流二极管)
L 负载电感 :100uH、200uH、500uH、1000uH自动切换
IC 集电极电流取样电流传感器
DUT 被测器件
开通时间定义(见下图):栅极触发信号第二个脉冲上升的10%到集电极电流IC上升到10%的时间间隔为开通延迟时间td (on) ,集电极电流IC上升的10%到90%的时间间隔即为电流上升时间tr ,则ton= td (on)+tr
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