(3)设备的功能特点
1)各种数据以图形方式在检测时实时显示与记录。数据采集后,后台软件自动及时绘出相应图表,以方便现场判断使用。关断时间测试参数:
1、关断时间toff:5~2000ns±3%±3ns
2、关断延迟时间td(off):5~2000ns±3%±3ns
3、下降时间tf:5~2000ns±3%±3ns
4、关断能量:0。
2)具有大容量的数据采集能力。测试数据直接进入控制电脑,这样使
检修用IGBT测试仪批发
(3)设备的功能特点
1)各种数据以图形方式在检测时实时显示与记录。数据采集后,后台软件自动及时绘出相应图表,以方便现场判断使用。关断时间测试参数:
1、关断时间toff:5~2000ns±3%±3ns
2、关断延迟时间td(off):5~2000ns±3%±3ns
3、下降时间tf:5~2000ns±3%±3ns
4、关断能量:0。
2)具有大容量的数据采集能力。测试数据直接进入控制电脑,这样使得采集数据的容量为无限大。
3)具有内置的软件,帮助提供自动判断。
4)具有方便的历史数据存储及检索功能。
测试参数多且完整、应用领域更广泛,但只要使用其基本的2项功能:「开启」电流压降,「关闭」电流的漏电流,就可知道大功半导体有没有老化的现象。
可移动型仪器,使用方便,测试简单,立即提供测试结果与数值。
适用的半导体元件种类多,尤其能测大功率元件。
用户能确实掌握新采购元件的质量,避免用到瑕疵或品。
完全由计算机控制、的设定参数。
适用于实验室和老化筛选的测试。
操作非常简单、速度快。
完全计算机自动判断、自动比对。
9、系统保护功能
9.1 有完备的安全控制单元,动态测试设备有传感器来保证操作者安全,设备任何门被打开均能切断高压电源。
9.2 有急停按钮,当急停按钮被按下时,迅速切断所有高压电源。
9.3 系统带有短路保护功能,在过载时迅速断开高压高电流。
9.4 操作系统带有多级权限。
9.5 系统应配有内置ups,保证计算机系统在电网短时间掉电情况下,为系统供电0.5小时以上,确保系统及数据安全。
10、样品夹具
10.1 有通用测试夹具。
10.2 带有62mm封装测试夹具
10.3 带有EconoPACK3封装测试夹具
10.4 带有34mm封装测试夹具
5 包装、标志和运输
卖方负责整套设备的包装和运输,并负担由此产生的费用。6)防护:无较大灰尘,腐蚀或性气体,导电粉尘等空气污染的损害。出厂调试结束、出厂前预验收完成后,卖方将为每个柜子量身定做包装柜,保证包装坚固,能适应境内公路、铁路运输,并兼顾设备在现场保存时间的要求。包装与运输由专人负责,每个部分随机文件包括发货清单、出厂合格证、试验报告和主要器件说明书等。
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