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便携式IGBT测试仪价格承诺守信「华科智源」

华科智源IGBT测试仪制造标准 华科智源IGBT测试仪HUSTEC-1200A-MT除满足本技术规格书的要求外,在其设计、制造、试验、检定等制程中还应满足以下标准的版本。当功率元件老化时,元件的内阻在导通时必定会加大,因而使温度升高,并使其效能降低。 GB/T 29332-2012 半导体器件分立器件第9 部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB 13869-2008 用电安全导则 GB19517
便携式IGBT测试仪价格

华科智源IGBT测试仪制造标准 华科智源IGBT测试仪HUSTEC-1200A-MT除满足本技术规格书的要求外,在其设计、制造、试验、检定等制程中还应满足以下标准的版本。当功率元件老化时,元件的内阻在导通时必定会加大,因而使温度升高,并使其效能降低。 GB/T 29332-2012 半导体器件分立器件第9 部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB 13869-2008 用电安全导则 GB19517-2004 电器设备安全技术规范 GB 4208-2008 外壳防护等级(IP 代码)(IEC 60529:2001,IDT) GB/T 191-2008 包装储运图示标志 GB/T 15139-1994 电工设备结构总技术条件 GB/T 2423 电工电子产品环境试验 GB/T 3797-2005 电气控制设备 GB/T 4588.3-2002 印制板的设计和使用 GB/T 9969-2008 工业产品使用说明书总则 GB/T 6988-2008 电气技术用文件的编制 GB/T 3859.3 半导体变流器变压器和电抗器 GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2 部分:整流二极管



3.6 VCES 集射极截止电压 0~5000V 集电极电流ICES: 0.01~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~50mA±1%±0.1mA; 集电极电压VCES: 0-5000V±1.5%±2V; * 3.7 ICES 集射极截止电流 0.01~50mA 集电极电压VCES: 50~500V±2%±1V; 500~5000V±1.5%±2V; 集电极电流ICES: 0.001~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~150mA±1%±0.1mA; * 3.8 VCE(sat) 饱和导通压降 0.001~10V 集电极电流ICE: 0-1600A 集电极电压VCEs: 0.001~10V±0.5%±0.001V 栅极电压Vge: 5~40V±1%±0.01V 集电极电流ICE: 0~100A±1%±1A; 100~1600A±2%±2A;7测试夹具 1、控制方式:气动控制 2、控温范围:室温—150℃室温—125℃±1。 * 3.9 Iges 栅极漏电流 0.01~10μA 栅极漏电流IGEs: 0.01~10μA±2%±0.005μA 栅极电压Vge: ±1V~40V±1%±0.1V; Vce=0V; * 3.10 VF 正向特性测试 0.1~5V 二极管导通电压Vf: 0.1~5V±1%±0.01V 电流IF: 0~100A±2%±1A; 100~1600A±1.5%±2A;



2.2反向恢复技术条件 测试参数: 1、Irr(反向恢复电流):50~1000A 50~200A±3%±1A 200~1000A±3%±2A 2、Qrr (反向恢复电荷):1~1000uC 1~50uC±5%±0.1 uC 50~200uC±5%±1 uC 200~1000uC±5%±2 uC 3、trr(反向恢复时间):20~2000ns 20~100±5%±1ns 100~500±5%±2ns 500~2000±3%±5ns 4、Erec(反向关断能量损失):0.5~1000mJ 0.5~1mJ±5%±0.01mJ 1~50mJ±5%±0.1mJ 50~200mJ±5%±1mJ 200~1000mJ±5%±2mJ 测试条件: 1、正向电流IFM:50~1000A 50~200A±3%±1A 200~1000A±3%±2A 2、-di/dt测量范围:200~10000A/us 3、反向关断峰值电压VRRpk:200~1000V±3%±2V 4、dv/dt测量范围:100~10000V/us



7要求 卖方应通过ISO 9001质量论证。 卖方所提供的元件,必须是经过检验合格的器件,否则,买方有权拒付货款。 9A±3%±50mA 10A~50A±3%±1A 3、EA:10mJ~20J 10mJ~1000mJ±3%±1mJ 1J~20J±3%±10mJ 4、脉冲宽度:40—1000uS可设定 5、测试频率:单次 2。买方有权要求卖方委托第三方进行有关参数的测试,以确保出厂测试的参数真实有效。 在调试期间发现元件有缺陷或受到损坏,应由卖方负责免费更换并予以赔偿。 卖方由于自身原因而延迟交货时,买方有权按商务规定方法向卖方收取罚款。 卖方对技术规范保证数据的有效性及交货保质期等应由双方协商确定并签署在合同中。





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