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南阳ESI-900型X荧光光谱分析仪厂商「在线咨询」

RoHS检测方法可以参考IEC62321:2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序 首先用XRF光谱仪进行无损筛选,,非破坏性,成本低。但干扰因素多,误差较大。 XRF光谱RoHS分析仪以其可进行无损筛检的性能,受到多个行业的青睐,其中包括 儿童用品 玩具、首饰、小饰品、蜡笔、粉笔、塑料、餐盒及背包 服装和服饰:衣服、拉链、纽扣、贴
ESI-900型X荧光光谱分析仪厂商







RoHS检测方法可以参考IEC62321:2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序

首先用XRF光谱仪进行无损筛选,,非破坏性,成本低。但干扰因素多,误差较大。

XRF光谱RoHS分析仪以其可进行无损筛检的性能,受到多个行业的青睐,其中包括

儿童用品

玩具、首饰、小饰品、蜡笔、粉笔、塑料、餐盒及背包

服装和服饰:衣服、拉链、纽扣、贴花、莱茵假钻、镶边、袋子和钱夹。





由于原子的能级很多,原子在被激发后,其外层电子可有不同的跃迁,但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”),因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线,这些谱线按一定的顺序排列,并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析),而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关,因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。




光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收,由发射光谱被减弱的程度,进而求得样品中待测元素的含量。它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度,I0为发射光强度,T为透射比,L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的。





电子电气产品中有害物质检测RoHS2.0样品拆分通用要求

General Disassembly Requirements for Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products

在电子电气产品有害物质的检测中 ,样品拆分过程对于检测结果具有直接的影响。本标准参考欧盟关于均质材料的定义对样品进行拆分,将样品拆分成终提交检测的单元,然后再进行检测。对于用机械手段难以拆分的非均质材料,按照一定的条件,如质量、体积等符合本标准规定的,可以直接提交检测,不需进一步拆分。本标准用举例和图示的方法对拆分的原则进行说明







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