XRF矿石分析仪产品特点
1.小型化、、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术
4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配
EDX-9000B真空型矿石元素分析仪
XRF矿石分析仪产品特点
1.小型化、、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术
4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作
7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限
矿石元素分析仪是对矿石成分分析的仪器，用来检测分析矿石中所含元素的含量的，如对铁矿石，铜矿石，锰矿石，镍矿石中硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、稀土、镁、钛、锌、铝、铅、铁、钨、等元素的定量分析检测。中文名矿石元素分析仪性 质分析仪应 用检测分析矿石中所含元素技 术智能动态跟踪其他应用矿石开采。电力设施。苏州英飞思科学仪器有限公司苏州英飞思科学仪器有限公司
检测铬与其他金属的能力方面有著非常优越的表现。本机可使用光元素分析程式来分析磷、硫、氯、钾、钙等金属成份。·使用了的和多用途的x射线资料模式：采用康普顿常态化校正方法：可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。基本参数：采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法：利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。
分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像，用于各种微观形貌及成分分析。
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