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主营产品:第三方检测机构

[服务]高温储存寿命试验测试厂家 赛特检测

更新时间:2020-3-23 10:03:31
实验目的

为了考核高温对试样的影响,确定试样在高温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。

实验原理

电子元器件在高温环境中,其冷却条件恶化,散热困难,将使器件的电参数发生明显变化或 绝缘性下降。使电子元器件处于高温下一定时间,考核电子元器件的外观与电参数是否发生变 化,从而确定电子元器件的抗高温能力。

实验参考标准

JESD22-A103、GJB1864A-2011
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高温储存寿命试验测试厂家 赛特检测
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