无源晶振称为石英晶体谐振器，其参数很多。较简易的方法，可以搭载一个振荡电路，用频率计测量频率，并替代电阻法，等效得出晶振谐振电阻。并用电容表直接测量晶振静态电容。但由于振荡槽路不平衡，较难测出准确数值。
用阻抗计测量。可以较容易测量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等参数值，并可通过计算得出其它相关参数。缺点阻抗计一般数度有限，频率值一般误差在5ppm左右，其支架电感的严重影响，使串联谐振频率相位移较大，同时又干扰正确测量负载谐振频率。另外，其测量有一定的局限性，只能测量质量因数大于60以上的晶振，也不能进行功率扫描和寄生扫描。
网络分析仪测量。分为和通用两种。网络分析仪设置简单，可以进行全部晶振参数的测量
在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难，对于负载谐振频率(FL)的测量才是主要问题，特别是负载电容(CL)很低的时候。晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高，用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和，一般来说这样的要求不切实际，成本太高。所以后来又出现几种新的测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。我们下面先对各种方法作一比较。
负载谐振频率测量法，如果已经知道被测器件是一个线性晶振，则可以使用这个方法来测量；但在大多数场合下，需要先有一个测试方法来告诉你它是否是线性的，所以计算法不实用，除非你在测试前已经知道晶振是线性的。
问题十：晶振 电压 如何测 那个不叫晶振，叫晶体。
万用表测不出来它是否起振。
另外有电时，不能用万用表电阻挡测电阻，可能会把万用表烧坏。
晶体一般不会坏，晶体是石英的，害怕被摔。
焊锡高温一般不会损害晶体。
直接连接单片机，找个正常的程序，看看能否运行就知道晶体好坏了。
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