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ENJ30200 IGBT静态参数测试仪

规格：ENJ30200 功能：● 针对 IGBT 的各种静态参数而研制的智能测试系统 ● 大功率（I V 最大可扩展至4500A、6000V） ● 自动化程度高（按照操作人员设定的程序自动工作） ● 计算机记录测试结果，测试结果可转化为文本或 EXCEL 格式存储 ● 采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点 ● 测试方法灵活（可完美测试器件以及单个单元和多单元的模块测试） ● 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）参数条件： ①栅极-发射极漏电流IGES ④集电极-发射极截止电流ICES IGES: 0.1-10uA±3%±0.1uA 集电极电流ICES:&1600.1-30mA±5%±0.01mA 集电极电压VCE: 0V 集电极电压VCE:&160100-3500V±5%（选配）栅极电压 VGE: 20V ±3%±0.2V 栅极电压VGE:0V ②集电极-发射极电压BVCES ⑤栅极-发射极阀值电压测试VGETH 集电极

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ENJ2005-C晶体管图示仪

规格：ENJ2005-C 功能：● IV曲线显示/局部放大 ● 程序保护最大电流/电压,以防损坏 ● 品种繁多的曲线 ● 可编程的数据点对应 ● 增加线性或对数 ● 可编程延迟时间可减少器件发热 ● 保存和重新导入入口程序 ● 保存和导入之前捕获图象 ● 曲线数据直接导入到EXCEL ● 曲线程序和数据自动存入EXCEL ● 测试范围广（19大类、27分类）曲线测试： ID vs. VDS at range of VGS ID vs. VGS at fixed VDS IS vs. VSD RDS vs. VGS at fixed ID RDS vs. ID at several VGS IDSS vs. VDS / HFE vs. IC BVCE（O,S,R,V） vs. IC BVEBO vs. IE

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ENJ2005-B半导体分立器件测试系统系列

规格：ENJ2005-B 功能：● 测试范围广（19大类，27分类） ●升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A ● 采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS ● 被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏 ● 真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际值偏差很大） ● 系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障 ● 二极管极性自动判别功能，无需人工操作技术参数 ENJ2005-B型主极电压 10mV-2000V 主极电流 100nA-50A 扩展电流 100A、200A、400A、500A 电压分辨率 1mV 电流分辨率 100nA 测试精度 0.5%+2LSB 测试速度 0.5mS/参数

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