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相关产品
 
WT-2000型少子寿命测试仪
WT-2000型少子寿命测试仪
规格：WT-2000 功能：&8226 适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm &8226 全自动操作及数据处理 &8226 对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理 &8226 能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭 &8226 可以选择测试样品上任意位置 &8226 能提供专利的表面化学钝化处理方法 &8226 对各道工序的样品均可进行质量监控： 1. 微波光电导衰减法测少子寿命: 　1.1 寿命测试范围：0.1 us – 30 ms 　1.2 测试分辨率：0.1% 　1.3扫描分辨率：0.5,1,2,4,8,16mm 　1.4 样品的电阻率范围：0.1 – 1000 ΩCM 　1.5 测试光点直径：1mm 　1.6 测试速度：30ms/数据点 　1.7 最大测试点数：超过360000 　1.8激光源波长：904nm 　1 WT-2000，少子寿命测试
少子寿命测试仪
少子寿命测试仪
规格：WT-1200A 功能：&61548 符合Semi 标准F1535-00 &61548 符合中国国家标准GB/T26068-2010 &61548 与电池线厂保持相同的业界硅片控制标准 &61548 可测试样品的任何位置 &61548 可测量单晶或多晶材料 &61548 有可选择的表面化学钝化专利技术 &61548 可测量任意工艺加工步骤后的半成品太阳能电池片 a有效少子寿命 测试范围：0.1μs to 30 ms 0.1μs to 30 ms 分辨率： 0.1% 重复性： 2% b稳态少子寿命 测试范围： 50μs to 30 ms 分辨率： 0.10% 重复性： 2% WT-1200A，少子寿命测试
扩展电阻测试仪
扩展电阻测试仪
规格：SRP170 功能：可对探针状态进行手动修正 手动完成校准曲线 可选配研磨角自动测量组件（BAM） 分析软件简单易用， 内含各种分析模式 扩展电阻： 1Ω - 109Ω 电阻率： 10-4 - 4.0 *104 Ω.cm 载流子浓度： 1011 - 1021 cm-3 纵向结深分辨率： 5nm 扩展电阻测试仪，SRP170
SE-2000光谱椭偏仪
SE-2000光谱椭偏仪
规格：SE-2000 功能：1） 高精度的薄膜测量（膜厚、n值、K值） 2） 全世界第一家宽光谱型椭偏仪（光谱范围从深紫外的193nm至远红外的25微米） 3） VLSI行业测试标准均使用SOPRA的设备进行标定 4） 较强的可扩展性 5） 微光斑：最小可达60微米 SE-2000，光谱椭偏仪，
MCV-530 汞探针（汞CV）测试仪
MCV-530 汞探针（汞CV）测试仪
规格：MCV-530 功能：样品正面向上，非损伤测试 系统内汞含量极少，汞保护措施完善 汞接触面积稳定，重复性优秀 工业化设计，符合SEMI各项标准 应用面广，适合半导体、液晶等不同行业 行业标准设备，市占率90%以上 偏压范围： ±250V 击穿电压范围： ±1100V 电流范围： 10fA to 100mA 汞接触面积重复性： 0.15% 汞探针（汞CV）测试，MCV530（L），全自动，
GES5E全光谱椭偏仪
GES5E全光谱椭偏仪
规格：GES5E 功能：业界第一家光谱型椭偏仪测试设备厂商 业界标准测试机构定标设备，参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准 非接触、无损测试所测样品无损伤的测量 业界最宽测试光谱范围，选配135nm-25um，并可自动切换快速探测模式和高精度探测模式 测试功能延展性强，并支持后续升级服务 定期免费升级SOPRA材料数据库 开放光学模型拟合分析过程，方便用户优化测试菜单 测试速度：＜1 sec （快速测试模式） ＜120 sec （高分辨率测试模式） 测量光谱分辨率：＜0.5nm@633nm （高分辨率测试模式） ＜0.8nm@633nm （快速测试模式） 最大样品尺寸： 300mm 厚度测量范围：0.01nm-50um 厚度测试精度：0.02nm @120nm SiO2 on Si 折射率测试精度：0.002 @120nm SiO2 on Si GES5E，全光谱椭偏仪，少子寿命
扫描探针显微镜
扫描探针显微镜
规格：DS 95 SPM 功能：DS95 SPM扫描仪的紧凑设计，保证了其出色的稳定性和扫描速率。 - 独特的即插即用悬臂切换功能确保仪器可以快捷和安全的操作。 - 一个集成的光轴为SPM扫描仪在寻找和定位目标过程中提供总体视觉控制。 - DS95 SPM扫描仪作为基本设备提供给所有常用和先进的SPM型号。 - 集成电子元件的扫描头保证了在电性SPM模式下的最低噪音值。 - DS95多元底座允许DS95 SPM扫描仪，纳米压痕仪和光学显微镜等安装在DME底座平台上。 - 出色的稳定性和易于处理，以实惠的价格水平。 - 在日常小样本测量方面进行了操作和性能方面的优化设计。 - 通过对CCD总的视觉控制来实现样品 扫描体积：50×50×5mm（DS95-50）或200×200×15mm（DS95-200） - XYZ方向探针移动量：独立于样本大小！ - 最高的机械稳定性 - 快速的扫描速率高达30Hz - 在Z方向的硬件线性扫描运动 - 在Z方向的噪音水平0.05 nm的有效值 - 自我调节激光/悬臂偏转系统 - 最小。在AC模式幅度设置1纳米 - 对悬臂式综合光轴 - 即插即用 扫描探针显微镜，少子寿命，DS 95 SPM
深能级瞬态谱仪
深能级瞬态谱仪
规格：DLS-83D 功能：&8226 探测灵敏度高 &8226 可直接求出界面态按能量的分布 &8226 可分别测定界面态能级和体内深能级 &8226 可分别测定俘获截面与能量、温度的关系 &8226 温度范围：20K ~ 320K &8226 温度稳定性：0.1K &8226 温度精度： 1K 或 1% &8226 测试电容：1 ~ 10000pF &8226 电容灵敏度：2*10-5pF &8226 相角稳定性：0.001° &8226 检测灵敏度：1010atoms/cm3 深能级瞬态谱仪，DLS-83D，少子寿命
孔径测量仪
孔径测量仪
规格：CMS-3 功能： 孔径测量仪
低温探针台
低温探针台
规格：VT1000 功能： 低温探针台,探针台,变温探针台
塞贝克热电效应测试仪
塞贝克热电效应测试仪
规格：SB100 功能： 塞贝克效应测试仪,热电效应测试仪,塞贝克系数
F-P扫描干涉仪
F-P扫描干涉仪
规格：FPS2000 功能： F-P扫描干涉仪
朗缪尔探针
朗缪尔探针
规格：LMP 功能：产品功能和特点： 探针电压电流自动扫描 Windows图形化显示等离子体参数 自动控制探针移动机构 1.离子/电子密度测量范围：108 - 1012cm-3 2.电子温度测量范围： 10 eV 3.悬浮电位测量范围：-100V to 100 V 4.空间电位测量范围：-100V to 100 V 5.探针扫描电压-120 to +120V 6.探针电流范围0.25 mA to 200 mA 7.探针扫描电压频率10Hz-20KHz 8.采样速率250 KSPS/ 2M SPS 9.探针材料钨丝，0.2 mm直径 10.绝缘材料 朗缪尔探针
薄膜应力测试仪
薄膜应力测试仪
规格：SUP 功能：产品功能和特点： 自动采集分析数据功能； 自动扫查样品边缘，定位样品中心； 自动计算出曲率半径值和薄膜应力值； 对原始表面不平直的基片表面的薄膜，可采取原位测量的方式，计算薄膜应力值。 1.原理：曲率法Stoney公式 2.薄膜应力测量范围：1×10-2GPa到1×102GPa； 3.曲率半径测试范围：0.3-60m 4.曲率半径测试误差：﹤±1% 5.薄膜应力计算误差：﹤±2.5% 6.测试平台行程：100mm 7.控制：独立PC及控制软件 8.仪器尺寸：1500x1500x430mm 薄膜应力测试仪,薄膜应力仪,薄膜残余应力
磁旋光玻璃
磁旋光玻璃
规格：C 功能： Er玻璃


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